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Geum, Y. & Kim, M. (2020) How to identify promising chances for technological innovation: keygraph-based patent analysis, Advanced Engineering Informatics, 46, 101155

Geum, Y. & Kim, M. (2020) How to identify promising chances for technological innovation: keygraph-based patent analysis, Advanced Engineering Informatics, 46, 101155

저자

Geum, Y. & Kim, M.

저널 정보

Advanced Engineering Informatics

출간연도

2020

링크

https://doi.org/10.1016/j.aei.2020.101155

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